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Aircraft firing circuit test set
Analog and mixed signal design engineer
Analog integrated circuit
Analogue integrated circuit
Chip card
Digital integrated circuits
Electronic component
Electronic tube
Engineer of integrated circuits
I-c tester
ICC
In-circuit test conducting
In-circuit test performing
Integrated circuit
Integrated circuit card
Integrated circuit design engineer
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Integrated circuit types
Integrated-circuit test clip
Integrated-circuit testes
Linear integrated circuit
Microchip
Microprocessor
Mixed-signal integrated circuits
Perform in-circuit test
Performing in-circuit test
Semi-conductor
Smart card
Transistor
Types of integrated circuit

Übersetzung für "Integrated-circuit testes " (Englisch → Deutsch) :

TERMINOLOGIE
integrated-circuit test clip

Prüfklemme für integrierte Schaltungen


i-c tester | integrated-circuit testes

IS-Tester | Prüfgerät für integrierte Schaltungen


digital integrated circuits | types of integrated circuit | integrated circuit types | mixed-signal integrated circuits

Arten von integrierten Schaltkreisen | Typen integrierter Schaltkreise


engineer of integrated circuits | integrated circuit designer | analog and mixed signal design engineer | integrated circuit design engineer

Mikrochip-Entwickler | Spezialist für integrierte Schaltungen | IC-Designer/IC-Designerin | Spezialistin für integrierte Schaltungen


analog integrated circuit | analogue integrated circuit | linear integrated circuit

lineare integrierte Schaltung


in-circuit test conducting | in-circuit test performing | perform in-circuit test | performing in-circuit test

In-Circuit-Test durchführen


electronic component [ electronic tube | integrated circuit | microchip | microprocessor | semi-conductor | transistor ]

elektronisches Bauteil [ Elektronenröhre | elektronische Platine | elektronisches Bauelement | Halbleiter | integrierter Schaltkreis | Mikrochip | Mikroprozessor | Speicherbaustein | Transistor ]


smart card | chip card | integrated circuit card [ ICC ]

Chipkarte | Smartcard | Smart Card


aircraft firing circuit test set

Zündkreis-Prüfgerät


integrated guidance/flight control test and check equipment

Prüf-und Kontrollausrüstung für integrierte Flugsteuerung
IN-CONTEXT TRANSLATIONS
The operation of diffusion, in which integrated circuits are formed on a semi-conductor substrate by the selective introduction of an appropriate dopant, whether or not assembled and/or tested in a non-party

Verfahren der Diffusion, bei dem durch selektives Aufbringen eines geeigneten Dotierungsstoffes auf ein Halbleitersubstrat integrierte Schaltungen gebildet werden, auch wenn der Zusammenbau und/oder das Testen in einer Nichtvertragspartei stattfinden


8542 31 to 8542 33 and 8542 39 | Monolithic integrated circuits | Manufacture from materials of any heading, except that of the product or The operation of diffusion, in which integrated circuits are formed on a semi-conductor substrate by the selective introduction of an appropriate dopant, whether or not assembled and/or tested in a non-party | Manufacture in which the value of all the materials used does not exceed 45 % of the ex-works price of the product |

8542 31 bis 8542 33 und 8542 39 | Monolithische integrierte Schaltungen | Herstellen aus Vormaterialien jeder Position, ausgenommen aus Vormaterialien derselben Position wie das Erzeugnis oder das Verfahren der Diffusion (bei dem durch selektives Aufbringen eines geeigneten Dotierungsstoffes auf ein Halbleitersubstrat integrierte Schaltungen gebildet werden), auch wenn der Zusammenbau und/oder das Testen in einer Nichtvertragspartei stattfinden | Herstellen, bei dem der Wert aller verwendeten Vormaterialien 45 v. H. des Ab-Werk-Preises des Erzeugnisses nicht überschreitet |


Monolithic integrated circuits | Manufacture in which: the value of all the materials used does not exceed 40 % of the ex-works price of the product, andwithin the above limit, the value of all the materials of headings 8541 and 8542 used does not exceed 10 % of the ex-works price of the productor The operation of diffusion, in which integrated circuits are formed on a semi-conductor substrate by the selective introduction of an appropriate dopant, whether or not assembled and/or tested in a country or territory other than those spe ...[+++]

– monolithische integrierte Schaltungen | Herstellen, bei dem der Wert aller verwendeten Vormaterialien 40 v. H. des Ab-Werk-Preises der Ware nicht überschreitet undinnerhalb der obenstehenden Begrenzung der Wert aller verwendeten Vormaterialien der Positionen 8541 und 8542 10 v. H. des Ab-Werk-Preises der Ware nicht überschreitet,oder das Verfahren der Diffusion, bei dem durch selektives Aufbringen eines geeigneten Dotierungsstoffes auf ein Halbleitersubstrat integrierte Schaltungen gebildet werden, auch wenn der Zusammenbau und/oder das Testen in einem in den Artikeln 3 und 4 nicht genannten Land oder Gebiet stattfinden | Herstellen, b ...[+++]


– proximity cards and "smart cards" with two or more electronic integrated circuits | Manufacture in which: the value of all the materials used does not exceed 40 % of the ex-works price of the product, andwithin the above limit, the value of all the materials of headings 8541 and 8542 used does not exceed 10 % of the ex-works price of the productor The operation of diffusion, in which integrated circuits are formed on a semi-conductor substrate by the selective introduction of an appropriate dopant, whether or not assembled and/or tested in a country other ...[+++]

– Proximity-Karten und "intelligente Karten (smart cards)" mit zwei oder mehr elektronischen integrierten Schaltungen | Herstellen, bei dem der Wert aller verwendeten Vormaterialien 40 v. H. des Ab-Werk-Preises der Ware nicht überschreitet undinnerhalb der obenstehenden Begrenzung der Wert aller verwendeten Vormaterialien der Positionen 8541 und 8542 10 v. H. des Ab-Werk-Preises der Ware nicht überschreitet,oder das Verfahren der Diffusion, bei dem durch selektives Aufbringen eines geeigneten Dotierungsstoffes auf ein Halbleitersubstrat integrierte Schaltungen gebildet werden, auch wenn der Zusammenbau und/oder das Testen in einem in den Art ...[+++]


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b. For testing integrated circuits capable of performing functional (truth table) testing at a 'pattern rate' of more than 333 MHz;

b) zum Prüfen von integrierten Schaltungen mit Wahrheitstabellen (truth tables) bei einer 'Testmusterrate' größer als 333 MHz;


b. For testing integrated circuits capable of performing functional (truth table) testing at a "pattern rate" of more than 333 MHz;

b) zum Prüfen von integrierten Schaltungen mit Wahrheitstabellen (truth tables) bei einer "Testmusterrate" größer als 333 MHz;


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