3B002 "Stored programme controlled" test equipment, specially designed for testing finished or unfinished semiconductor devices, as follows, and specially designed components and accessories therefor:
3B002 "Speicherprogrammierbare" Prüfgeräte, besonders konstruiert für das Testen von fertigen oder unfertigen Halbleiterbauelementen wie folgt, sowie besonders konstruierte Bestandteile und besonders konstruiertes Zubehör hierfür: